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【24h】

FIABILITE DE TRANSISTORS AU SILICIUM A STRUCTURE PLANE SOUMIS AU RAYONNEMENTγdu 60Co

机译:具有平面结构的硅晶体辐射器的可靠性

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摘要

Le but d'une étude de fiabilité est de-conduire 1'utilisateur à prévoir la durée de vie d'un dispositif travaillant dans des conditions bien définies, Lorsque la contrainte, appliquée à ce dispositif est la contrainte "rayon-nement" (cas des appareils devant fonctionner au voisinage de réacteurs ou d'accélérateurs, ou destinés à des expériences spatiales) la connaissance des probabilités de défaillance des éléments, dérives et pannes cataleptiques, doit permettre à l'ingénieur d'études, d'une part de concevoir des circuits sus-ceptibles de fonctionner correctement dans cette ambiance, d'autre part de prévoir la durée de vie de ces circuits.

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