Hybrid circuits; Failure(Electronics); Test methods; Packaging; Sealed systems; Parametric analysis; Nondestructive testing; Nitrogen; Gas analysis; Standards; Military requirements; Burn in tests;
机译:刻录,或不刻录:这是问题
机译:波分多路复用半导体激光器的老化老化行为和分析模型:快速老化可以长期保证可靠性吗?
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机译:老化测试设计:芯片间参数变化下的老化热稳定性技术
机译:老化和浴缸分配
机译:基于多圈自我关注的亮度降解补偿地址薄膜晶体管 - 有机发光二极管烧伤
机译:国际科学园评估研讨会会议记录。巴里,1992年3月26日至27日。欧元14741 EN。研究评估。科技政策系列