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【24h】

Mikro-XRF-Analytik mit hoherer Sensitivitat und Auflosung dank SDD-Detekto-ren: das neue XGT-7200/5200

机译:借助SDD检测器,可进行更高灵敏度和分辨率的Micro-XRF分析:新型XGT-7200 / 5200

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摘要

Die bewahrten Rontgenmikroskope der XGT-Reihe von Horiba Scientific sind jetzt wahlweise mit Silicon Drift Detektoren (SDD) ausgestattet. Zu den Vorteilen der Detektoren zahlen eine hohere Energieauflosung und bis zu 10-fach hohere Zahlraten. Zudem ist kein flussiger Stickstoff zur Kuhlung mehr notig. Ins- gesamt ergibt sich daraus eine wesentlich verbesserte Sensitivitat insbesondere auch bei leichten Elementen.
机译:Horiba Scientific久经考验的XGT系列X射线显微镜现已可选装硅漂移检测器(SDD)。检测器的优势包括更高的能量分辨率和高达10倍的更高计数率。另外,不再需要液氮来冷却。总体而言,这会显着提高灵敏度,尤其是对于轻元素。

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