Spectromicroscopie X in situ de l'interface electrochimique

摘要

Le rayonnement synchrotron offre la possibilite d'imager in situ, dans le spectre X et a l'echellesubmicronique, des interfaces solide-liquide et d'acceder ainsi a des informations structurales et morphologiques dynamiques sur des materiaux complexes tels que les electrodes. Cet article presente une technique d'analyse chimique et d'imagerie in situ a l'echelle submicronique de processus reactionnels a l'interface electrochimique, echelle difficilement accessible par les spectroscopies actuelles.