Komputerowe badania wplywu zuzycia den gniazd i flanki zebow bebna na polozenie ogniw w gniazdach bebna lancuchowego

摘要

Efektem dlugotrwalego wspoldzialania ogniw poziomych z dnami gniazd moze byc zuzycie deformujace dna gniazda i flanki zebow, ktore calkowicie zmienia warunki zachowania sie ogniw na bebnie lancuchowym. Podobnie obecnosc urobku jest powodem zanieczyszczenia den gniazd bebnow lancuchowych zmieniajac polozenie ogniw poziomych w gniazdach. Zaprezentowano wyniki badan komputerowych wplywu zuzycia den gniazd i flanki zebow na parametry opisujace polozenie ogniwa poziomego w gniezdzie dla bebnow lancuchowych o liczbie zebow wynoszacej z = 6 i z. - 8 wspoldzialajacych z lancuchem ogniwowym 30x 108 w zroznicowanych warunkach tarcia.