Mit einem neuen Weisslicht-Interferometer konnen zur Qualitatssicherung Oberflachenmessungen sowohl im Labor als auch in der Produktionslinie durchgefuhrt werden. Hochentwickelte Produktionsverfahren mit modernen, automatisierten Maschinen fertigen die Produkte immer praziser und schneller. Dadurch steigen auch die Anforderungen an die Qualitatssicherung standig. Mit dem neuen Weisslicht-Interferometer TMS-500 TopMap von Polytec konnen Anwender mit dieser Entwicklung "Schritt halten". Somit gelingt es, die Produktionsausbeute zu steigern und die Produktionskosten zu senken. In der heutigen Zeit ist es ausserst wichtig, Fehler in der Produktion fruhzeitig zu erkennen. Mit dem optischen Messsystem TopMap TMS-500 konnen Anwender neben der dreidimensionalen Oberflachencharakterisierung auch Ebenheits- und Parallelitatstoleranzen produktionsnah, schnell und mit hoher Wiederholprazision uberprufen.
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