LEITERPLATTEN: Automatische Testsysteme erfordern pruf gerechten Platinenaufbau

摘要

Um einen vorzeitigen Ausfall elektronischer Baugruppen zu verhindern, mussen die Platinen ausgiebig getestet werden. Ein grosses Problem bei der Uberprufung dieser Komponenten sind aber der Aufbau der Platinen und die genauen Angaben der entsprechenden Prufspannungen. Dies muss schon bei der Entwicklung berucksichtigt werden.