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【24h】

Siemens-Messsystem fur beruhrungslose Profilerfassung von Langprodukten in neuer Version

机译:西门子测量系统,用于新版本的长产品的非接触式轮廓记录

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摘要

Mit Siroll Orbis+ erganzt Siemens VAI Metals Technologies seine Produktreihe fur die Profilerfassung von Langprodukten um eine nahezu wartungsfreie Losung. Wie sein Vorganger Orbis arbeitet das neue Messsystem nach dem Schattenprinzip und ermoglicht das Vermessen von runden sowie einer Vielzahl nichtrunder Profile im laufenden Walzbetrieb.
机译:通过Siroll Orbis +,西门子奥钢联金属技术为其产品系列增加了一种几乎免维护的解决方案,用于长材轮廓检测。像其前身奥比斯(Orbis)一样,新的测量系统根据阴影原理工作,并且可以在轧制操作进行时测量圆角和大量非圆角轮廓。

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