九州工業大学情報工学研究科;
NECエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部;
Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology 680-4 Kawazu, Iizuka-shi, Fukuoka, 820-8502 JapanNEC Electronics Test Analysis Technology Development Div. Technology Foundation Development Op. Unit 1753 Shimonumabe Nakahara-ku Kawasaki-shi Kanagawa 211-8668 Japan;
故障診帆; フルスキャン回路; テストポイント挿入; 観測性; fault diagnosis; full scan circuit; test point insertion; observability;