机译:通过电荷收集显微镜直接观察氧化Z双晶中a掺杂的晶界的势垒结构。
grain boundary; conductive mode scanning electron microscopy; bicrystal; varistor; EBIC;
机译:通过电荷收集显微镜直接观察氧化Z双晶中a掺杂的晶界的势垒结构。
机译:直接观察氧化锌压敏电阻材料中的晶界肖特基势垒行为
机译:使用REBIC显微镜直接观察氧化锌压敏电阻势垒结构中的不对称性。
机译:使用Rebic显微镜直接观察氧化锌压敏电阻阻挡结构的不对称性
机译:通过晶界开槽实验测量8摩尔%氧化钇-氧化锆双晶体的表面扩散率。
机译:透射电子显微镜观察Al晶粒尺寸晶界沟槽与Al / AlOx / Al隧道结氧化物势垒厚度局部变化的相关性
机译:从曲折到直晶界:改善超导YBa {sub 2} Cu {sub 3} O {sub y}双晶中人工诱导晶界的结构
机译:从曲折到直晶界:改善超导YBa2Cu3O(y)双晶中人工诱导晶界的结构