...
首页> 外文期刊>ieee design & test of computers >Design and test on chip for EMC
【24h】

Design and test on chip for EMC

机译:Design and test on chip for EMC

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

著录项

  • 来源
    《ieee design & test of computers》 |2006年第6期|502-503|共2页
  • 作者

    Vargas Fabian;

  • 作者单位

    PUCRS, Porto Alegre, RS, Brazil;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号