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IEEE Design & Test of Computers Magazine

IEEE Design & Test of Computers Magazine

SCIEI

中文名称：IEEE设计与测试计算机杂志

ISSN：0740-7475
出版周期：Quarterly

发文量：30

期刊论文

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2001
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2000
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- 第3期
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1999
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1989
- 第1期
- 第2期
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- 第4期
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1.Tool for embedded-software developers

机译：Tool for embedded-software developers
- 作者：Anonymous
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第1期
2.Analyzing the Impact of Intermittent Faults on Microprocessors Applying Fault Injection

机译：Analyzing the Impact of Intermittent Faults on Microprocessors Applying Fault Injection
- 作者：Gil-Tomas Daniel;Gracia-Moran Joaquin;Baraza-Calvo J-CarlosSaiz-Adalid Luis-J.Gil-Vicente Pedro-J.
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2012年第6期
- RELIABILITY;
3.Design methodology for a large communication chip

机译：Design methodology for a large communication chip
- 作者：Clauberg R.;Herkersdorf A.;Webb DJ.Buchmann P.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第3期
- Asics;
4.Semicustom design of an IEEE 1394-compliant reusable IC core

机译：Semicustom design of an IEEE 1394-compliant reusable IC core
- 作者：Bertacchi M.;De Gloria A.;Olivieri M.Grosso D.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第3期
5.DT roundtable: Power delivery and distribution

机译：DT roundtable: Power delivery and distribution
- 作者：Ning T;Svensson C;Shanbhag NNicol CPreston RGabara T
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第4期
6.A Two-Input, One-Output Bit-Scalable Architecture for Fuzzy Processors

机译：A Two-Input, One-Output Bit-Scalable Architecture for Fuzzy Processors
- 作者：Roberto dAmore;Osamu Saotome;Karl Heinz Kienitz
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2001年第4期
7.Guest editors' introduction: Benchmarking for design and test

机译：Guest editors' introduction: Benchmarking for design and test
- 作者：Davidson S;Harlow J
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第3期
8.Standards: Evolution of EDA standards worldwide

机译：Standards: Evolution of EDA standards worldwide
- 作者：Stan Krolikoski
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2011年第1期
9.A two-input, one-output bit-scalable architecture for fuzzy processors

机译：A two-input, one-output bit-scalable architecture for fuzzy processors
- 作者：dAmore R;Saotome O;Kienitz KH
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2001年第4期
- HARDWARE;
10.Attacks and Defenses for JTAG

机译：Attacks and Defenses for JTAG
- 期刊名称：《IEEE design & test of computers》 | 2010年第1期
- JTAG;
- design and test;
- embedded test;
- hardware security;
- security;
11.Test counting: a tool for VLSI testing

机译：Test counting: a tool for VLSI testing
- 作者：Akers S.B.;Krishnamurthy B.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 1989年第5期
12.Low-impact processor for dynamic runtime power management

机译：Low-impact processor for dynamic runtime power management
- 作者：Peddersen Jorgen;Parameswaran Sri
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2008年第1期
13.Collection and analysis of microprocessor design errors

机译：Collection and analysis of microprocessor design errors
- 作者：Van Campenhout D;Mudge T;Hayes JP
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第4期
14.Panel Summaries: Infrastructure IP design for repair in nanometer technologies

机译：Panel Summaries: Infrastructure IP design for repair in nanometer technologies
- 作者：R. Chandramouli
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2005年第1期
15.DATC Newsletter

机译：DATC Newsletter
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2006年第1期
- DATC;
- design automation;
- information-based economy;
- intellectual property;
16.Energy-Aware Distributed Speech Recognition for Wireless Mobile Devices

机译：Energy-Aware Distributed Speech Recognition for Wireless Mobile Devices
- 作者：Brian Delaney;Nikil Jayant;Tajana Simunic
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2005年第1期
17.Decreasing test qualification time in AMS and RF systems

机译：Decreasing test qualification time in AMS and RF systems
- 作者：Joannon Yves;Beroulle Vincent;Robach ChantalTedjini SmailCarbonero Jean-Louis
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2008年第1期
18.Digitally Intensive Wireless Transceivers

机译：Digitally Intensive Wireless Transceivers
- 作者：Robert Bogdan Staszewski
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2012年第6期
19.Placement Optimization of Flexible TFT Digital Circuits

机译：Placement Optimization of Flexible TFT Digital Circuits
- 作者：Chester Liu;En-Hua Ma;Wen-En WeiJames Chien-Mo LiI-Chun ChengYung-Hui Yeh
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2011年第6期
20.Guest editors' introduction: Microprocessor test and verification

机译：Guest editors' introduction: Microprocessor test and verification
- 作者：Abadir M;Dasgupta S
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第4期
21.Attacks and Defenses for JTAG

机译：Attacks and Defenses for JTAG
- 作者：Rosenfeld Kurt;Karri Ramesh
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2010年第1期
- JTAG;
- design and test;
- embedded test;
- hardware security;
- security;
22.Analog design elements

机译：Analog design elements
- 作者：Anonymous
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第3期
23.Enhancing yield at the end of the technology roadmap (vol 21, pg 563, 2004)

机译：Enhancing yield at the end of the technology roadmap (vol 21, pg 563, 2004)
- 作者：Sirisantana N;Paul BC;Roy K
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2005年第1期
24.Logic design for printability using OPC methods

机译：Logic design for printability using OPC methods
- 作者：Lucas K;Yuan CM;Boone RWinnner KStrozewski KToublan O
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2006年第1期
25.TinyLogic now in smaller package

机译：TinyLogic now in smaller package
- 作者：Anonymous
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第1期
26.Validating PowerPC microprocessor custom memories

机译：Validating PowerPC microprocessor custom memories
- 作者：Krishnamurthy N.;Abadir M.;Abraham JA.Martin AK.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
- Formal verification;
27.Fast-Write Resistive RAM (RRAM) for Embedded Applications

机译：Fast-Write Resistive RAM (RRAM) for Embedded Applications
- 作者：Shyh-Shyuan Sheu;Kuo-Hsing Cheng;Meng-Fan ChangPei-Chia ChiangWen-Pin LinHeng-Yuan LeePang-Shiu ChenYu-Sheng ChenTai-Yuan WuFrederick T. ChenKeng-Li SuMing-Jer KaoMing-Jinn Tsai
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2011年第1期
28.From the EIC

机译：From the EIC
- 作者：Cheng Tim
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第1期
- Chris Rowen;
- NoC;
- RFIC;
- hybrid approach;
- runtime power monitoring;
- simultaneous switching noise;
29.Masthead

机译：Masthead
- 期刊名称：《IEEE design & test of computers》 | 2010年第1期
30.Tool for embedded-software developers

机译：Tool for embedded-software developers
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第1期
31.Hierarchical ATPG for Analog Circuits and Systems

机译：Hierarchical ATPG for Analog Circuits and Systems
- 作者：Mani Soma;Sam Huynh;Jinyan ZhangSeongwon KimGiri Devarayanadurg
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2001年第1期
32.Using a soft core in a SoC design: Experiences with picoJava

机译：Using a soft core in a SoC design: Experiences with picoJava
- 作者：Dey S;Taylor CN;Panigrahi DSekar KChen LSanchez P
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第3期
33.Verification of Pin-Accurate Port Connections

机译：Verification of Pin-Accurate Port Connections
- 作者：Lee Geeng-Wei;Huang Juinn-Dar;Wang Chun-YaoJou Jing-Yang
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第5期
34.Optimizing Multiple EDA Tools within the ASIC Design Flow

机译：Optimizing Multiple EDA Tools within the ASIC Design Flow
- 作者：Lionel Bening;Harry Foster
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2001年第4期
35.The mutating metric for benchmarking test

机译：The mutating metric for benchmarking test
- 作者：Kapur R.;Williams TW.;Hay C.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第3期
36.Runtime reconfiguration techniques for efficient general-purpose computation

机译：Runtime reconfiguration techniques for efficient general-purpose computation
- 作者：Xu BX.;Albonesi DH.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第1期
37.Postsilicon validation methodology for microprocessors

机译：Postsilicon validation methodology for microprocessors
- 作者：Rotithor H
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第4期
- VERIFICATION;
38.Evolution of EDA standards worldwide

机译：Evolution of EDA standards worldwide
- 作者：Krolikoski Stan
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2011年第1期
39.Energy-aware distributed speech recognition for wireless mobile devices

机译：Energy-aware distributed speech recognition for wireless mobile devices
- 作者：Delaney B;Jayant N;Simunic T
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2005年第1期
40.Adaptive multiuser online reconfigurable engine

机译：Adaptive multiuser online reconfigurable engine
- 作者：Rakhmatov DN;Vrudhula SBK;Brown TJNagarandal A
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第1期
41.A metamodel for studying concepts in electronic system design

机译：A metamodel for studying concepts in electronic system design
- 作者：Jantsch A.;Hemani A.;Kumar S.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第3期
42.Test Technology TC Newsletter

机译：Test Technology TC Newsletter
- 作者：{Missing}
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2010年第1期
- DATE 2010;
- ITC 2010;
- LATW 2010;
- VTS 2010;
43.Postsilicon validation methodology for microprocessors

机译：Postsilicon validation methodology for microprocessors
- 作者：Rotithor H.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
- Verification;
44.The Last Byte - Testing: It's not just pass/fail anymore

机译：The Last Byte - Testing: It's not just pass/fail anymore
- 作者：Scott Davidson
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2005年第1期
45.Call for Papers

机译：Call for Papers
- 期刊名称：《IEEE design & test of computers》 | 2010年第1期
46.Controlled impedance calculator now upgraded

机译：Controlled impedance calculator now upgraded
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第1期
47.Attacks and Defenses for JTAG

机译：Attacks and Defenses for JTAG
- 作者：Rosenfeld Kurt;Karri Ramesh
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2010年第1期
48.Embedded systems and the kitchen sink

机译：Embedded systems and the kitchen sink
- 作者：Songer C.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2006年第1期
- EDA;
- SoC design;
- embedded applications;
- embedded systems;
- networked embedded systems;
- sensor networks;
49.TTTC reports on recent standards activities

机译：TTTC reports on recent standards activities
- 作者：Modi M.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第1期
50.Book Reviews: An EDA compendium

机译：Book Reviews: An EDA compendium
- 作者：Sachin Sapatnekar
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2005年第1期
51.Bit Cell Optimizations and Circuit Techniques for Nanoscale SRAM Design

机译：Bit Cell Optimizations and Circuit Techniques for Nanoscale SRAM Design
- 作者：Fatih Hamzaoglu;Yih Wang;Pramod KolarLiqiong WeiYong-Gee NgUddalak BhattacharyaKevin Zhang
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2011年第1期
52.MOSFET Mismatch Modeling: A New Approach

机译：MOSFET Mismatch Modeling: A New Approach
- 作者：Hamilton Klimach;Carlos Galup-Montoro;Marcio C. SchneiderAlfredo Arnaud
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2006年第1期
53.Design #x0026; Test in the new decade: Continuity and new directions

机译：Design #x0026; Test in the new decade: Continuity and new directions
- 期刊名称：《IEEE design & test of computers》 | 2010年第1期
- Trojans;
- VPOS;
- design and test;
- physical trustworthiness;
- Verification;
54.Twenty-two years ago

机译：Twenty-two years ago
- 作者：Davidson S
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第1期
55.Modeling a verification test system for mixed-signal circuits

机译：Modeling a verification test system for mixed-signal circuits
- 作者：Bello DS;Tangelder R;Kerkhoff H
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2001年第1期
56.System specification experiments on a common benchmark

机译：System specification experiments on a common benchmark
- 作者：Gorla G;Nebel W;Moser EVillar E
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第3期
57.Scan design at NEC

机译：Scan design at NEC
- 作者：Funatsu S.;Kawai M.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 1989年第3期
58.Early, Accurate Dependability Analysis of CAN-Based Networked Systems

机译：Early, Accurate Dependability Analysis of CAN-Based Networked Systems
- 作者：Julio Perez Acle;Matteo Sonza Reorda;Massimo Violante
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2006年第1期
59.Hybrid-SBST methodology for efficient testing of processor cores

机译：Hybrid-SBST methodology for efficient testing of processor cores
- 作者：Kranitis Nektarios;Merentitis Andreas;Theodorou GeorgePaschalis AntonisGizopoulos Dimitris
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2008年第1期
60.Design and Development Paradigm for Industrial Formal Verification CAD Tools

机译：Design and Development Paradigm for Industrial Formal Verification CAD Tools
- 作者：Narayanan Krishnamurthy;Magdy S. Abadir;Andrew K. MartinJacob A. Abraham
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2001年第4期
61.Guest editors' introduction: Microprocessor test and verification

机译：Guest editors' introduction: Microprocessor test and verification
- 作者：Abadir M.;Dasgupta S.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
62.Poirot: Applications of a logic fault diagnosis tool

机译：Poirot: Applications of a logic fault diagnosis tool
- 作者：Venkataraman S;Drummonds SB
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2001年第1期
63.Welcome to 2001

机译：Welcome to 2001
- 作者：Davidson S
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2001年第2期
64.Guest Editors'' Introduction: Tackling Key Problems in NoCs

机译：Guest Editors'' Introduction: Tackling Key Problems in NoCs
- 作者：Hoskote Yatin;Marculescu Radu;Peh Li-Shiuan
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第5期
65.Power Management in the Amulet Microprocessors

机译：Power Management in the Amulet Microprocessors
- 作者：Steve B. Furber;Aristides Efthymio;Jim D. GarsideDavid W. LloydMike J.G. LewisSteve Temple
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2001年第2期
66.Simultaneous Switching Noise: The Relation between Bus Layout and Coding

机译：Simultaneous Switching Noise: The Relation between Bus Layout and Coding
- 作者：Rossi D.;Nieuwland A.K.;Metra C.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第1期
67.Guest Editors' Introduction: Confronting the Hardware Trustworthiness Problem

机译：Guest Editors' Introduction: Confronting the Hardware Trustworthiness Problem
- 作者：Tehranipoor Mohammad;Koushanfar Farinaz
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2010年第1期
68.Placement Optimization of Flexible TFT Digital Circuits

机译：Placement Optimization of Flexible TFT Digital Circuits
- 作者：Liu Chester;Ma En-Hua;Wei Wen-EnLi James Chien-MoCheng I-ChunYeh Yung-Hui
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2011年第6期
- THIN-FILM TRANSISTORS;
69.Guest Editors'' Introduction: The Evolution of RFIC Design and Test

机译：Guest Editors'' Introduction: The Evolution of RFIC Design and Test
- 作者：Kim Bruce C.;Force Craig
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第1期
- CMOS technology;
- RF measurement;
- RFIC chips;
- design and test;
- wireless;
70.The Last Byte: Getting Close to Your Computer

机译：The Last Byte: Getting Close to Your Computer
- 作者：Scott Davidson
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2011年第6期
71.Multiport test system for RF components

机译：Multiport test system for RF components
- 作者：Anonymous
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第1期
72.Functionally testable path delay faults on a microprocessor

机译：Functionally testable path delay faults on a microprocessor
- 作者：Lai WC.;Cheng KT.;Krstic A.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
- Identification;
73.Guest Editors' Introduction: Digitally Enhanced Wireless Transceivers

机译：Guest Editors' Introduction: Digitally Enhanced Wireless Transceivers
- 作者：Haralampos-G. Stratigopoulos;Alberto Valdes-Garcia
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2012年第6期
74.Efficient multiplexer synthesis techniques

机译：Efficient multiplexer synthesis techniques
- 作者：Mitra S.;McCluskey EJ.;Awa LJ.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
75.Poirot: Applications of a Logic Fault Diagnosis Tool

机译：Poirot: Applications of a Logic Fault Diagnosis Tool
- 作者：Srikanth Venkataraman;Scott Brady Drummonds
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2001年第1期
76.Bit Cell Optimizations and Circuit Techniques for Nanoscale SRAM Design

机译：Bit Cell Optimizations and Circuit Techniques for Nanoscale SRAM Design
- 作者：Hamzaoglu Fatih;Wang Yih;Kolar PramodWei LiqiongNg Yong-GeeBhattacharya UddalakZhang Kevin
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2011年第1期
- 65-NM CMOS TECHNOLOGY;
- LEAKAGE REDUCTION;
77.RT-level ITC'99 benchmarks and first ATPG results

机译：RT-level ITC'99 benchmarks and first ATPG results
- 作者：Corno F;Reorda MS;Squillero G
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第3期
- COVERAGE;
78.New beginnings, continued success

机译：New beginnings, continued success
- 作者：Kwang-Ting Tim Cheng
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2006年第1期
79.TTTC Newsletter

机译：TTTC Newsletter
- 作者：Kim Bruce C.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第1期
- DATE;
- DDECS;
- ETS;
- SDD;
- TTTC;
- VTS;
- WTW;
- test technology;
80.A/D converter boasts performance, power advantages

机译：A/D converter boasts performance, power advantages
- 作者：Anonymous
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第1期
81.Conference Reports

机译：Conference Reports
- 作者：{Missing}
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2010年第1期
- Conference Reports;
82.Service and prototyping

机译：Service and prototyping
- 作者：Anonymous
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第3期
83.Conference Reports: 2005 International Test Conference

机译：Conference Reports: 2005 International Test Conference
- 作者：Butler K.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2006年第1期
- ITC 2005;
- International Test Conference;
- low-cost ATE;
- very-deep submicron tecnology;
- yield ramping;
84.DT elevated to bimonthly

机译：DT elevated to bimonthly
- 作者：Zorian Y.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
85.Semicustom design of an IEEE 1394-compliant reusable IC core

机译：Semicustom design of an IEEE 1394-compliant reusable IC core
- 作者：Bertacchi M;Grosso D;De Gloria AOlivieri M
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第3期
86.Numerical Data Representations for FPGA-Based Scientific Computing

机译：Numerical Data Representations for FPGA-Based Scientific Computing
- 作者：George A. Constantinides;Adam B. Kinsman;Nicola Nicolici
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2011年第4期
87.Current-based testing for deep-submicron VLSIs

机译：Current-based testing for deep-submicron VLSIs
- 作者：Sachdev M
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2001年第2期
- LOW-POWER;
- CMOS ICS;
88.A Quality-Driven Design Approach for NoCs

机译：A Quality-Driven Design Approach for NoCs
- 作者：Bourduas Stephan;Chenard Jean-Samuel;#x017Dili#x0107 #x017Deljko
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第5期
89.Battery-driven dynamic power management

机译：Battery-driven dynamic power management
- 作者：Benini L;Castelli G;Macii AScarsi R
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2001年第2期
90.Microprocessor test and verification

机译：Microprocessor test and verification
- 作者：Abadir M.;Dasgupta S.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
91.Effectiveness of microarchitecture test program generation

机译：Effectiveness of microarchitecture test program generation
- 作者：Utamaphethai N.;Shen JP.;Blanton RDS.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2000年第4期
- Formal verification;
- Validation;
- Processors;
92.Hardware Trojans in Wireless Cryptographic ICs

机译：Hardware Trojans in Wireless Cryptographic ICs
- 作者：Jin Yier;Makris Yiorgos
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2010年第1期
93.Comparing System-Level Power Management Policies

机译：Comparing System-Level Power Management Policies
- 作者：Yung-Hsiang Lu;Giovanni De Micheli
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2001年第2期
94.CEDA Currents

机译：CEDA Currents
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2008年第1期
- CEDA;
- DATE;
- EDA research;
- NoCS;
- PATMOS;
- SRC GRC;
- VLSI-SOC;
- industry growth;
95.DT elevated to bimonthly

机译：DT elevated to bimonthly
- 作者：Zorian Y
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2000年第4期
96.Infrastructure IP design for repair in nanometer technologies

机译：Infrastructure IP design for repair in nanometer technologies
- 作者：Chandramouli R
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2005年第1期
97.Engineering a device for electron-beam probing

机译：Engineering a device for electron-beam probing
- 作者：Lee W.T.
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 1989年第3期
98.Bringing Up a Chip on the Cheap

机译：Bringing Up a Chip on the Cheap
- 作者：Megan Wachs;Ofer Shacham;Zain AsgarAmin FiroozshahianStephen RichardsonMark Horowitz
- 期刊名称：《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 | 2012年第6期
99.Power management in the Amulet microprocessors

机译：Power management in the Amulet microprocessors
- 作者：Furber SB;Lloyd DW;Efthymiou ALewis MJGGarside JDTemple S
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2001年第2期
100.Signal integrity enhancement in digital circuits

机译：Signal integrity enhancement in digital circuits
- 作者：Semiao Jorge Filipe L. C.;Rodriguez Irago Marcial Jesus;Rodriguez-Andina Juan J.Piccoli Leonardo BischVargas Fabian Luisdos Santos Marcelino BichoCacho Teixeira Isabel MariaTeixeira Joao Paulo
- 期刊名称：《ieee design & test of computers》 | 2008年第5期

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