首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告. 集積回路. Integrated Circuits and Devices >タイムドメインジッタ分離手法によるデザインエラー、プロセスエラーの評価手法
【24h】

タイムドメインジッタ分離手法によるデザインエラー、プロセスエラーの評価手法

机译:タイムドメインジッタ分離手法によるデザインエラー、プロセスエラーの評価手法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

デバイスの高速化に伴い、従来のLS.テスタによるテストやオシロスコープを使った波形観測だけではなく"Signal Integrity"と言われるような評価が求められている。高速デバイスを評価する上で重要なタイミンクのジッタ成分を取り上げ、従来から使われているジッタ1σジッタpk-pkという測定値が持つ意味合いと、ジッタ分布の中からDeterministic(確定的)ジッタ成分とRamdom(自然的)ジッタ成分を分離して評価解析することが、デザインェラーやプロセスエラー、そして歩留まりの改善に繋がることを示している。
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号