Yield Learning Through Physically Aware Diagnosis of IC-Failure Populations

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【24h】

机译：通过对 IC 故障人群进行物理感知诊断来学习良率

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来源
《ieee design & test of computers》 |2012年第1期|36-47|共12页
作者
Blanton Ronald DeShawn; Tam Wing Chiu; Yu XiaochunNelson Jeffrey E.Poku Osei;
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作者单位

Carnegie Mellon Univ;

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收录信息美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
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正文语种英语
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