記憶装置における積符号（Product Code）の訂正能力評価

摘要

磁気/光記憶装置の記憶密度の向上に伴いより強力な誤り訂正能力が要求され，また誤り訂正符号の実使用環境に適した訂正能力評価が重要な課題になっている．筆者らはHDDを中心に記憶装置で最も基本的に使用されているLDC（Long Distance Code）について欠陥の分布モデルに基づいた訂正能力評価を実施，報告したが，本論文では，同報告で提案した分布モデルを用いた評価法を，記憶装置においてLDCとともに多用されている，積符号PC（Product Code）に適用し，本符号の訂正能力をLDCとの比較も含めて定量的に評価し，PCが媒体条件の厳しい環境で安定な訂正能力を発揮することを確認した．