高速シリアルリンクのためのアットスピード·セルフテストLSI

摘要

PCI-Expressなどの高速シリアルリンクでは，at-speedでのICテストが必要な場合，数GHzの信号が取り扱えるハイエンドICテスタが必要である．しかし，テストコストの増加は，製品価格の増加につながるため，汎用品への高速シリアルリンクの導入のためには，低コストなテストシステムの開発は重要である．本発表では，高速シリアルリンクのat-speed信号をテストできるセルフテスト手法を提案し，試作チップの設計およびローエンドテスタによるICテストを実行して，その有用性を示す．