クロックジッタや電源ノイズの発生原因を解明できるオンチップジッタスペクトラムアナライザ

摘要

マイクロプロセッサやシリアル通信用マクロのような高速デジタルLSIにおいて多発している電源ノイズによるジッタ増加に起因する動作不良に対処するためには、LSI上の電源ノイズやジッタをオンチップ測定回路により実測して設計に反映させるフィードバック型の設計スタイルが必要である。 この設計スタイルにより、動作不良を設計段階で未然に防止することができる。 この設計スタイルを実現するために、オンチップのジッタスペクトラムアナライザを開発した。 これにより、LSIが実装され実際に動作している状況下においてジッタ測定を行い、得られたジッタスペクトラムから電源分配網とクロック分配網の中で問題のある箇所を周波数領域で発見することができる。 0.18μm CMOSプロセスでLSIを試作し、1G Hzクロックのジッタスペクトラムの測定を行った。