アナログ回路の故障診断手法の検討

摘要

アナログ回路のパラメータ故障診断法として、観測用テストパッドの配置を前提とする新しい診断法を提案する。 この手法では、従来のパラメータ算定法の問題点を解決するため、故障パラメータが確率的に少数に限られるという仮定のもとで回路方程式をたて、これを解くことで回路パラメータの変動値を直接求める。 解が存在する場合、その素子パラメータを故障候補とし、特性測定値との近さによる重み付けにより故障候補の順位づけを行う。 更に、観測ポイントの最適な選択方法として、テスタビリティに基づいて回路ノード毎の診断能率を評価する方法を提案する。本手法をオペアンプの高抵抗ビア故障の診断に適用し、その有効性を確認した。 提案手法は設計上の知識無しに自動診断することが可能であり、RF信号処理LSIに代表されるデジタル·アナログ混在LSI の故障診断に大きく寄与するものと考えられる。