Decreasing test qualification time in AMS and RF systems

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• 来源
  《ieee design & test of computers》 |2008年第1期|29-37|共9页
• 作者

  Joannon Yves; Beroulle Vincent; Robach ChantalTedjini SmailCarbonero Jean-Louis;

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• 作者单位

  Grenoble Inst Technol Grenoble INP, Lab Syst Integrat & Design LCIS, F-26902 Valence 9, France;

  STMicroelect, Crolles, France;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
• 中图分类
• 关键词