Guest editors' introduction: Benchmarking for design and test

著录项

• 来源
  《ieee design & test of computers》 |2000年第3期|12-14|共3页
• 作者

  Davidson S; Harlow J;

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• 作者单位

  Sun Microsyst Inc, DFT Technol Grp, Palo Alto, CA 94303 USA;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
• 中图分类
• 关键词