...
首页> 外文期刊>Archiwum Nauki o Materialach >Wyznaczanie parametrow sieci krystalicznej metoda dyfrakcji zbieznej wiazki elektronow (CBED)
【24h】

Wyznaczanie parametrow sieci krystalicznej metoda dyfrakcji zbieznej wiazki elektronow (CBED)

机译:通过会聚电子束衍射(CBED)确定晶格参数

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

Metoda dyfrakcji zbieznej wiazki elektronow zostala zastosowana do wyznaczenia parametrow sieci krystalicznej. Dzieki zastosowaniu unikalnego programu komputerowego, osiagnieto dobra dokladnosc wynoszaca 0,00025 nm. Automatyczna detekcja pozycji linii HOLZ na eksperymentalnych obrazach CBED w oparciu o transformate Hough'a, pozwolila na skrocenie czasu analizy, a w szczegolnosci, na osiagniecie sub-pikselowej precyzji wyznaczenia polozenia tych linii. Uzycie w eksperymencie orientacji osi pasow o wysokich wskaznikach hkl umozliwilo pominiecie niezwykle czasochlonnych - dynamicznych symulacji obrazow CBED.
机译:使用会聚电子束衍射法确定晶格的参数。由于使用了独特的计算机程序,因此获得了0.00025 nm的良好精度。基于霍夫变换在实验CBED图像上自动检测HOLZ线位置可以缩短分析时间,特别是可以实现确定这些线位置的亚像素精度。在实验中使用带高hkl指数的皮带轴方向,可以省去非常耗时的动态CBED仿真。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号