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【24h】

JTAGテストによる検査の改革次世代ハイブリッド検査装置の取り組み

机译:JTAG测试改革的检查改革下一代混合检查装置

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摘要

サトーテクノロジー(株)では、工場や検査における様々な課題を迅速に見つけだし、常に検査装置や検査の仕組みを改善する素晴らしい仕組みがあった。 今回の「検査の改革」では、JTAGテストを活用する製品の選定やどの検査プロセスと組み合わせると最も効果が得られるか、様々な角度から検討され効果を上げることに成功した。将来は部品の微細化、3次元パッケージ化などにより、プリント実装基板のさらなる高密度化が進むことが予想されるが、プローブピンの数を最小限にできるJTAGテストに対する期待が大きくなっていることを実感した。
机译:Satotechnology Co.,Ltd。迅速在工厂和检查中找到了各种问题,并具有始终改善检查设备和检查结构的绝妙机制。 在这项“检查改革”中,我们成功地选择了使用JTAG测试的产品,哪些测试过程最有效,并且从各个角度实现了效果。 将来,预计由于零件,3D软件包等的微观增强,印刷实施板的进一步高密度将增加,但是对JTAG测试的期望可以最大程度地减少探测器的数量。实现。

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