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【24h】

Testing the Electron Tagging System of the KEDR Detector Using Muon Pairs Produced in Photon-Photon Collisions

机译:使用在光子 - 光子碰撞中产生的MuOn对测定KEDR检测器的电子标签系统

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摘要

The e(+)e(-) - e(+)e(-) + mu(+)mu(-) events selected in the central part of the KEDR detector are used for testing the energy calibration of the scattered electron tagging system and estimating the efficiencies for tagging one and two scattered electrons as a function of the virtual photon energy.
机译:e(+)e(-);在KEDR探测器的中心部分选择的e(+)e(-)+mu(+)mu(-)事件用于测试散射电子标记系统的能量校准,并根据虚拟光子能量估计标记一个和两个散射电子的效率。

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