Charakterisierung ohne Prufkopfwechsel

摘要

Die Rasterkraftmikroskopie (engl. Ato-mic Force Microscope, AFM) wird zur Charakterisierung von sowohl mechanischen als auch elektrischen, magnetischen und weiteren Oberflacheneigenschaften von Kunststoffen schon seit Langerem verwendet. Bei der Nutzung dieser mikroskopischen Messmethode fur die Charakterisierung ist es haufig entscheidend, dass alle Messungen an derselben Stelle der Probenoberflache stattfinden. In diesem Fall konnen unterschiedliche Oberflacheneigenschaften entsprechend korreliert und in einen quantitativen Zusammenhang gebracht werden.