首页> 外文期刊>Электронная Обработка Материалов >Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn_(1-x)Pr_xSe_2
【24h】

Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn_(1-x)Pr_xSe_2

机译:基于晶体TLIN_(1-X)PR_XSE_2的多点应变仪的装置

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

Разработаны устройства для использования при высоких температурах многоточечного тензометрирования на базе новых кристаллов TlIn_(1-x)Pr_xSe_2(0 ≤x ≤0,04), позволяющие повысить производительность и надежность результатов измерений при многоточечной тензометрии.
机译:基于新的TLIN_(1-X)PR_SE_2(0≤x≤0.04),用于在多点应变兴趣的高温下使用的装置,从而提高多点应变仪的测量结果的性能和可靠性。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号