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最新コンデンサの活用設計入門:電源ラインにおけるデカップリング活用技術

机译:利用最新电容器的设计介绍:电源线下的挖掘利用技术

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摘要

電源ラインは、デジタルI/OのようにON-OFFといった断続的な電圧変化dV/dtが少ないため、一見ノイズ的に安定しているように思われる。 しかし、電源ラインにはI/Oに同期した過渡電流が流れている。 特にCMOSロジックでは、図1に示すようにI/Oを伝わる負荷容量の充放電電流に加え、ハイサイドとローサイドのFETが一瞬、同時にONとなって生じる異通電流が電源端子に流れ込む。 この過渡電流をdi/dt、電源ラインの配線がもつインダクタンスをLとすれば電圧変動ΔV=L·di/dtが生じ、誤動作や半導体の過電圧破壊を招く原因となってしまう。
机译:电源线似乎非常稳定,因为有很少的间歇电压改变DV / DT,如数字I / O. 但是,电源线具有与I / O同步的瞬态电流。 特别地,在CMOS逻辑中,如图2所示。如图1所示,除了由I / O发送的负载电容的充电/放电电流之外,由高侧和低侧FET引起的拟合电流同时打开到电源终端。 如果具有DI / DT的瞬态电流和电源线的布线的电感为L,则产生电压波动ΔV= DI / DT,这导致半导体的故障和过电压故障。

著录项

  • 来源
    《電子技術》 |2002年第2期|共7页
  • 作者

    富樫正明;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 电子电路;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-20 15:43:12

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