部分ローテート型スキャン回路のテスタIPへの応用

摘要

部分ローテート型スキャン回路は，n検出テストのテストデータ量を圧縮し，低速テスタによる実動作速度テストを容易にする．本研究では，COMET IIプロセッサとViperプロセッサに部分ローテート型スキャン回路をテスタIPによって適用して，その有効性を評価した．COMETIIプロセッサでは，LFSRによる擬似ランダムテストによって60％程度の故障カバレージしか得られなかったが，部分ローテート型スキャン回路をCOMETIIの15回検出テストに適用した場合，ATPGと同等の故障カバレージをATPGの10％程度のテスげータ量によって得られることがわかった．