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遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法

机译:FF方法下的延迟故障可测试性劣化故障测试数据压缩方法

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摘要

本論文では,遅延故障テスト容易化フリップフロップ(以下FFと略記)方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法を提案する.提案テスト圧縮法は,遅延故障テスト容易化FFの構造を利用したテストデータ圧縮(1段階目圧縮)を行い,予めテストデータ量を削減する.その後削減されたデータにさらにテストデータ圧縮(2段階目圧縮)をかけることにより,2段階のテストデータ圧縮を行う.評価実験において,パフマン符号によるテストデータ圧縮法を2段階目圧縮に用いて提案圧縮法を適用した場合,従来法の場合と比較して,ATEに格納するテストデータ量を最大で37.1%,平均で26.0%削減できることを確認した.
机译:在本文中提出了延迟故障测试促进的触发器(以下简称为“FF(以下简称为FF)的退化故障测试数据压缩方法。使用延迟故障可测试性FF数据压缩的结构测试所提出的测试压缩方法(第一阶段压缩)进行,并且预先减少测试数据量。之后,通过应用测试数据压缩(两级压缩)进一步执行数据压缩(2级压缩)。评估实验,如果将所提出的压缩方法应用于使用北派代码的两级压缩方法,则存储在ATE中的测试数据量高达37.1%,并且确认26.0%的平均值可以减少26.0%。

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