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極薄シリコン酸窒化膜の種々の結合形態にある窒素原子の深さ方向分布

机译:氮原子的深度方向分布在超薄氧氮化硅膜的各种结合形式中

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摘要

シリコン酸化膜の窒素プラズマ中窒化処理により形成した膜厚約1nmのシリコン酸窒化膜中の種々の結合形態にある窒素原子の分布を、角度分解Si 2p·N 1s光電子スペクトルに最大エントロピー法を適用することにより調べた。 その結果、NO窒化により形成したシリコン酸窒化膜とは異なり、窒素原子の第一近接原子3個が全てがシリコン原子、第二近接原子9個全てが酸素原子となる結合形態が主成分となり表面近傍および界面近傍に存在することが分かった。
机译:在具有通过氮等离子体氮化物处理形成的氧化硅膜的氧化硅膜中,在具有氮氧化硅膜的氧化硅膜中分布氮原子的分布,将氮氧化硅形式的氮原子分布施加到角度降解的Si 2P·N 1s光电子谱。我通过做检查。 结果,与没有氮化形成的氮氧化硅膜不同,氮原子的第一部分的键合形式是所有硅原子,九个第二接近原子是主要成分,主要成分是主要成分。发现它存在于界面附近。

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