首页>
外文期刊>Контрольно—измерительная техника
>Оптоэлектронная камера для неразрушающего исследования искрения на короткозамкнутых токонесущих проводах и деталях предохранителя с
【24h】
Оптоэлектронная камера для неразрушающего исследования искрения на короткозамкнутых токонесущих проводах и деталях предохранителя с
Чем меньше магнит, тем больше влияние его поверхности на исследуемые характеристики. Для подтверждения сказанного проводились следующие ис следования: а) проверяемые магниты покрывались алюминием с относительной маг нитной проницаемостью μγ=1,0. Другим покрытием был никель с μγ 〉〉 1,0, что привело к необходимости использовать дополнительную магнит ную схему и применять разные методы измерения; б) при определении объема магнита необходимо учитывать допуск на тол щину его покрытия; в) разделение магнита на отдельные пластины для получения магнитовразных форм приводили к созданию на поверхности магнита слоя толщиной 20-30 мкм, магнитные характеристики которого были нарушены.
展开▼