Методами рентгеноструктурного, микрорентгеыоспектрального и микроструктурного анализа и измерения микротвердости изучен эффект доэвтектического контактного плавления в системе 8Ь-Те при пропускании постоянного электрического тока. Предложена модель, объясняющая образование метастабильной эвтектики Sb+Te переходом атомов Te и Sb в ионизированное состояние и последующей электромиграцией ионов.
展开▼