固体内部の電子状態を探る硬X線励起光電子分光

摘要

固体内部深くの電子状態を探る新手法として最近利用が広がりつつある硬Ⅹ線励起の光電子分光について，SPring－8における現状とその特性について紹介した。 本手法は，光電子分光の弱点とも言える表面敏感性を克服し，特に従来の光電子分光法では観察することができなかった，固体試料の内部における本質的な電子状態や，深く埋もれた界面の電子状態等の解明に大きな威力を発揮するものと期待される。 本手法では海外でも大きな注目を集め，他の放射光施設でも装置の導入·実験が始まっている。 また，この大きなメリットが明らかになったことから，実験室レベルで利用できる硬Ⅹ線光源の開発なども始められているようであり，今後更なる研究分野の発展が期待される。