Измерительный комплекс в совокупности с разработанным программным обеспечением позволяет автоматически проводить измерения в микроволновом диапазоне компонент тензора диэлектрической проницаемости ε{top ^} и коэффициента диэлектрических потерь одноосных кристаллов с тетрагональным, гексагональным и тригональным типами симметрии, а также двуосных кристаллов с ромбическим типом симметрии без их разрушения. Комплекс (рис. 1) состоит из промышленного оборудования: панорамного измерителя КСВН и затухания Р2-61(67) со сменными генераторными блоками соответствующего диапазона; электронно-счетного частотомера Ч3-54; персонального компьютера (ПК) и разработанного нестандартного оборудования: набора волноводных разветвлений различной конфигурации; устройства сопряжения с периферией; программного обеспечения для ПК. Волноводные разветвления изготовлены из латуни, покрыты серебром и позволяют проводить измерения в диапазоне частот 7. 5-37. 5 ГГц. Использование полуоткрытых волноводных разветвлений различной конфигурации позволяет проводить исследование локальных характеристик образцов без их разрушения [1-5]. Методика, а также погрешность измерения компонент тензора 8 и диэлектрических потерь одноосных и двуосных кристаллов приведены в работах [2, 4, 5].
展开▼
