ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛОВ МЕТОДОМ ХОЛЛА И МЕТОДОМ ВАН ДЕР ПАУ В РЕЖИМЕ МЕДЛЕННОГО ДРЕЙФА ТЕМПЕРАТУРЫ

摘要

Описан способ измерения эффекта Холла в режиме медленного дрейфа температуры. Предлагаемая методика позволяет измерять электрические характеристики полупроводниковых материалов в широком диапазоне температур без необходимости стабилизации температуры образца. Это дает возможность за время проведения эксперимента значительно увеличить число измеряемых точек по сравнению с традиционными методами, что повышает точность экспериментальных данных. Результаты расчета с помощью уравнения электронейтральности по экспериментальным данным, полученным по данной методике, хорошо согласуются с данными других авторов.