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【24h】

[特別招待講演]ローエンドSiプロセスで高歩留り·温度無依存動作を実現する加工誤差自動補正機能を備えた超低クロストークWDM分波器

机译:[特殊邀请谈话]通过处理误差自动校正功能实现超低串扰WDM双器件,实现高位站点和温度独立于低端SI过程

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摘要

Si光集積回路は光導波路寸法ばらつきに由来する位相誤差が大きく、波長分離回路のクロストークを抑えるのが難しいという問題がある。この問題を解決する新しい分波器を試作·動作実証しECOC 2019にて報告した。本分波器を用いることで集積実装可能なシンプルな制御方法で約-50 dBの低クロストークを実現し、この技術により高歩留り、温度無依存が実現、WDMの集積密度やコストを大幅な改善が期待できることを示したが、本稿においてはその内容のレビューを行うと共に本技術の意義について説明する。
机译:Si光学集成电路具有从光波导尺寸变化导出的相位误差大的问题,并且难以抑制波长分离电路的串扰。 我们展示了一个新的分离器来解决这个问题,并展示试验制造和操作,并在Ecoc 2019报道。 通过使用多路复用器可以累积的简单控制方法,实现了约-50dB的低串扰,并且通过该技术实现了高产,温度独立性,并且WDM的集成密度和成本显着虽然可以改进预期,在本文中,我们将审查内容并解释目前技术的重要性。

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