電磁コンタクタの補助接点の接触信頼性に関する基礎実験

摘要

電磁コンタクタの補助接点に対して、DC10V，1Aの回路条件で10万回の開閉実験を行った。補助接点の接触抵抗Rc、アーク継続時間ta、溶融金属ブリッジ継続時間tb、およびアークエネルギーEaに与える回路条件と開閉回数の影響を実験した。さらに電圧、電流の小さい微小負荷条件DC5V，3mAでの100万回の開閉実験を行い接触抵抗の変化を測定した。実験後の接点表面を3Dレーザー顕微鏡で観察した。その結果、10万回の開閉実験では、回路内にインダクタンスがあるには場合、アーク放電が発生し接点形状への影響が見られた。また、微小負荷条件の100万回の実験では、Rcの測定値や表面観察から接触信頼性が非常に高いことが明らかとなった。