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微細MOSFETのリーク電流を考慮した2電源型システムLSIの低消費電力設計法

机译:考虑微MOSFET的漏电流的2电源系统LSI低功率设计方法

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摘要

微細MOSFETの充放電電流、ゲートリーク電流、サブスレッショルドリーク電流による消費電力を考慮した2電源型(V_H、V_L方式)システムLSIの消費電力の削減効果について解析した。消費電力の削減率は充放電電流のみを考慮した場合には電圧比VL/VHによって決定されるのに射し、リーク電流のみを考慮した場合にはV_L/V_HとV_Hの絶対値によって決定される。 詳細な解析の結果65nm、45nm、32nmいずれの世代でも従来通り充放電電流による消費電力を最小にするV_L/V_Hで2電帝方式を最適化すると、リーク電流による消費電力もほぼ最小に出来る。 以上の解析より2電源型は微細MOSFETを用いて設計されたシステムLSIにとってリーク電流による消費電力が支配的になる世代でも、低消費電力化にとても有効な方式である寒が分かった。
机译:考虑到精细MOSFET的充电和放电电流,栅极漏电流和亚阈值漏电流的电力消耗,分析了两种电源类型(V_H,V_L方法)系统LSI功耗。 当仅考虑电压和放电电流时电压比VL / VH考虑功耗降低速率时,当仅考虑漏电流时,通过V_L / V_H和V_H的绝对值确定。NS。 当优化具有V_L / V_H的2电灯泡方法时,优于65nm,45nm,32nm的详细分析,从而最大限度地减少充电和放电电流的功耗,可能几乎最小化功耗漏电流。 从上述分析中,已知使用精细MOSFET设计的系统LSI,甚至一种代表甚至占据漏电流引起的功耗的一代,并且已知冷冷是一种非常有效的减少方法能量消耗。

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