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化学溶液析出法によるZnOナノロッドの成長とPEDOT:PSS/ZnOナノロッドへテロ接合による紫外光検出

机译:通过化学溶液加工方法和PEDOT ZnO纳米棒的生长:PSS / ZnO纳米杆UV检测由恐怖关节检测

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摘要

イオンプレーティング法Ga添加ZnOシード(GZO)層上に化学溶液析出法を用いて垂直配向ZnOナノロッド(NRs)を成長した.走査型電子顕微鏡観察から近接NRs間にギャップが存在することが明らかになった.フォトルミネセンス測定では,成長時間の増加に伴うバンド端発光に対するオレンジ色発光の強度の低下が観察された.PEDOT:PSS/ZnO NRs/GZOへテロ接合は,暗状態においてSchottky接合の形成による整流性を示し,光照射下では光電流が観察された.光電流はバンド間励起に相当する紫外線照射下で効率よく生成された.光電流の立ち上がり時間と立ち下がり時間は,それぞれ数secおよび数百secと非常に遅かった.これらの挙動は,光電流生成へのNRs表面への酸素分子イオンの吸脱着の関与を示唆している.
机译:离子电镀方法使用在Ga掺杂的ZnO种子(GZO)层上的化学溶液中甲板生长垂直取向ZnO纳米棒(NRS)。 据揭示,从扫描电子显微镜观察的接近NR之间存在间隙。 在光致发光测量中,观察到随着生长时间的增加而降低橙色光发射的强度。 PEDOT:对PSS / ZnO NRS / GZO的恐怖交叉点由于在黑暗状态下形成肖特基结而进行整改,并且在轻辐射下观察到光电流。 在与带间激发相对应的紫外线照射下有效生产光电流。 光电流的上升时间和秋季时间分别非常慢,数百秒。 这些行为表明,氧分子离子对NRS表面的吸附和解吸的介断到光电等产生。

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