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蛍光X線分析法を用いた土壌分析に関する概説と応用について

机译:荧光X射线分析方法综述及土壤分析应用

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摘要

土壌汚染対策法が2003年2月15日から施行されることが決定した。 この対策法によれば工場跡地や建設予定地の土壌汚染有無について測定を行い管理基準を満足しているかどうかを調査する必要がある。現在その分析法についてはまだ規定されていない。 従来だと原子吸光光度法,ICP-MS, ICP-AES法が用いられている。 しかし,これらの分析法は破壊分析で試料前処理が非常に面倒で時間がかかる。 また,フツ酸,硝酸,塩酸などを使用するため非常に危険であり,廃液処理も非常に面倒である。 当然工場跡地での現場での分析は不可能である。
机译:决定从2003年2月15日起采取土壤污染措施。 根据该测量方法,有必要测量工厂现场和计划施工现场的土壤污染,并调查是否满足管理标准。 目前尚未定义分析方法。 在过去,使用原子分光光度法,ICP-MS和ICP-AES方法。 然而,这些分析方法非常麻烦和时间用于销毁分析中的样品预处理。 此外,它是非常危险的,因为它是非常危险的,因为它用于使用内大酸,硝酸,盐酸等,并且废液处理也非常麻烦。 当然,工厂现场的现场分析是不可能的。

著录项

  • 来源
    《環境と測定技術》 |2003年第4期|共5页
  • 作者单位

    National Institute for Fusion Science 322-6 Oroshi Toki 509-5292 Japan;

    National Institute for Fusion Science 322-6 Oroshi Toki 509-5292 Japan;

    National Institute for Fusion Science 322-6 Oroshi Toki 509-5292 Japan;

    National Institute for Fusion Science 322-6 Oroshi Toki 509-5292 Japan;

    National Institute for Fusion Science 322-6 Oroshi Toki 509-5292 Japan;

    National Institute for Fusion Science 322-6 Oroshi Toki 509-5292 Japan;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 一般性问题;
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