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磁気シールドルームの低周波遮蔽性能評価法の検討 その4 2層シールドルームの測定結果

机译:研究中的磁屏蔽室的低频屏蔽性能评价方法部分4的2层屏蔽室测量

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摘要

(社)電子情報技術産業協会(JEITA)磁気シールドルームGでは,一様磁界における1Hz以下(超低周波)の磁気シールドルーム(MSR)の遮蔽性能評価法に続き,現在,渦電流の影響が無視できない1Hz より高い周波数(低周波)の遮蔽性能評価法の規格化を検討している.これまで,導電層を含み渦電流による遮蔽効果を有する1層MSR(パーマロイ1層,銅1 層)に励磁コイルを用いて磁界を印加し,コイルの大きさと離隔距離を変化させた実測及び解析による検証を行ってきた.本報告では,より遮蔽性能が高い2層MSRについて1層と同様の効果が得られるか実測にて検証する.
机译:(公司)电子信息技术行业协会(JEITA)磁屏蔽室G继续均匀磁场中1 Hz或更小(超低频率)磁屏蔽室(MSR)的屏蔽性能评估方法,目前是涡流的影响。我们考虑正常化屏蔽性能评估方法高于1 Hz的频率(低频),这是不忽视的。 以前,将磁场施加到具有通过涡流的屏蔽效果的一层MSR(渗透合金1层,铜1层),并且改变了线圈的幅度和分离距离的测量和分离距离进行了改变和分析。 在本报告中,对于具有较高屏蔽性能或通过测量测量的双层MSR可以获得与一层相同的效果。

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