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磁気シールドルームの低周波遮蔽性能評価法の検討 その4 2層シールドルームの測定結果

机译:电磁屏蔽室低频屏蔽性能评估方法的检验第4部分2层屏蔽室的测量结果

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摘要

(社)電子情報技術産業協会(JEITA)磁気シールドルームGでは,一様磁界における1Hz以下(超低周波)の磁気シールドルーム(MSR)の遮蔽性能評価法に続き,現在,渦電流の影響が無視できない1Hzより高い周波数(低周波)の遮蔽性能評価法の規格化を検討している.これまで,導電層を含み渦電流による遮蔽効果を有する1層MSR(パーマロイ1層,銅1層)に励磁コイルを用いて磁界を印加し,コイルの大きさと離隔距離を変化させた実測及び解析による検証を行ってきた.
机译:在电子信息技术行业协会(JEITA)的磁屏蔽室G中,遵循在均匀磁场中1 Hz以下(超低频)的磁屏蔽室(MSR)的屏蔽性能评估方法,目前正在研究涡流的特性。我们正在研究对频率高于1Hz(低频)的屏蔽性能评估方法的标准化,这是不容忽视的。到目前为止,1层MSR(1层坡莫合金,1层铜包括导电层并具有涡流屏蔽作用的磁场,使用励磁线圈对频率施加磁场,并通过实际测量和分析进行验证,其中改变了线圈的尺寸和间隔距离。

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