ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДА ДВУХВОЛНОВОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

摘要

Представлены экспериментальные результаты исследования новой схемы метода двухволновой рентгеновской дифрактометрии на станции "Рентгеновская кристаллография и физическое материаловедение" Курчатовского источника синхротронного излучения, в которой кроме стандартного двухкристального монохроматора используется узкая щель перед образцом. Измерения выполнены для отражений 111 и 311 Si в монохроматоре и 111 и 220 Si в кристалле-образце. Показано, что в такой схеме можно получить "почти собственную" кривую дифракционного отражения даже в симметричном случае дифракции, если угол Брэгга для монохроматора в 2 раза и более превышает угол Брэгга для кристалла-образца. Экспериментальные результаты хорошо совпадают с теорией.