Механические повреждения элементов конструкций часто происходят в результате хрупкого разрушения или пластической деформации, возникших на поверхности материала из-за наличия там различного рода дефектов и неоднородностей технологического характера, а также вследствие коррозионных процессов и ударных воздействий. В данной работе малые отклонения поверхности тела от плоской формы рассматриваются как дефект поверхности, порождающий локальный рост напряжений и, тем самым, представляющий угрозу развития повреждений. Для анализа концентрации напряжений, вызванной слабым искривлением поверхности тела используется метод возмущения, аналогичный тому, который был применен в работах [1-2] для изучения криволинейных трещин. Публикуемая работа продолжает исследования [3], которые инициированы потребностью разобраться в вопросах поверхностного зарождения дислокационных полупетель в полупроводниковых гетеро-эпитаксиальных структурах. Такие материалы, составленные из полупроводниковых слоев с различными параметрами решеток, широко применяются в многочисленных электронных и оптических приборах. При несогласованности решеток возникают деформации, приводящие к образованию дислокаций, плотность которых влияет на качество и производительность электронных устройств.
展开▼
