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[招待講演]磁気ディスク界面の測定技術:プラズモンセンサの応用-サブナノメートルへの挑戦

机译:[邀请谈话]磁盘接口测量技术:将等离子体传感器 - 挑战的应用对亚南仪表

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摘要

4Tb/in2以上の記録密度に対応する極薄潤滑膜/DLC保護膜の化学構造を、プラズモンセンサと表面増強ラマン散乱分光法で測定することに成功した。また膜の深さ方向の化学構造変化も0.1nmの分解能で測定した。
机译:通过等离子体传感器和表面增强的拉曼散射光谱成功地测量了对应于4TB / In2或更多的记录密度的超薄润滑膜/ DLC保护膜的化学结构。 此外,还以0.1nm的分辨率测量膜的深度方向上的化学结构变化。

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