記録密度2Tb/in~2 to 5Tb/in~2のハードディスクドライブ（HDD）で使用可能な再生素子のパフォーマンスをスピントランスファートルク（STT）と熱擾乱ノイズの効果を含めて見積もった．特に低い面積抵抗（RA）の領域ではSTTによるノイズは使用できるMR比に大きく影響してくる．また熱擾乱ノイズは素子サイズが20nm程度で影響が大きくなり，12nm以下の素子サイズで現行構造では媒体ノイズと同程度になる．これは5Tb/in~2以上の記録密度では何らかの熱擾乱ノイズ対策が必要になってくることを意味する．
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机译：记录密度2TB / IN 2至5TB / IN至2硬盘驱动器（HDD）估计再生元素（HDD）的性能，包括Spintransfooterk（STT）和热干扰噪声的影响。 特别地，在低面积电阻（RA）的区域中，STT的噪声极大地影响了可以使用的MR比。 另外，热扰动噪声随着约20nm的元件尺寸而增加，并且电流结构与元件尺寸为12nm或更小的介质噪声相当。 这意味着记录密度为5 tb / in 2或更高，需要任何热干扰噪声对策。
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