Степень временной когерентности полупроводниковых лазеров, работающих в режиме автопульсаций интенсивности, исследована двумя методами. В первом из них измерения выполнены с использованием интерферометра Майкельсона и регистрации функции автокорреляции, во втором - спектральном - измерялась спектральная плотность излучения. Показано, что в эксперименте оба метода дают близкие результаты, однако спектральный метод из-за большего вклада спонтанного излучения в регистрируемый сигнал может занижать степень когерентности на величину до 30%.
展开▼