首页> 外文期刊>Неорганические материалы >КИНЕТИКА РОСТА И МИКРОСТРУКТУРА ПЛЕНОК PbTe, СИНТЕЗИРОВАННЫХ НА ПОДЛОЖКАХ Si И BaF_2 МОДИФИЦИРОВАННЫМ МЕТОДОМ 'ГОРЯЧЕЙ СТЕНКИ'
【24h】

КИНЕТИКА РОСТА И МИКРОСТРУКТУРА ПЛЕНОК PbTe, СИНТЕЗИРОВАННЫХ НА ПОДЛОЖКАХ Si И BaF_2 МОДИФИЦИРОВАННЫМ МЕТОДОМ 'ГОРЯЧЕЙ СТЕНКИ'

机译:通过“热墙”方法改性的Si和BAF_2基材上合成的生长动力学和微观结构PBTE薄膜

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Модифицированным методом "горячей стенки" с использованием графитовой реакционной камеры синтезированы пленки теллурида свинца на подложках Si (100) и BaF_2 (100). Методами рентгенографического анализа, локального рентгеноспектрального анализа и растровой электронной микроскопии установлено, что независимо от природы подложки средняя скорость синтеза пленок РЬТе с составом в пределах области гомогенности растет с увеличением парциального давления паров свинца и уменьшается с увеличением парциального давления паров теллура. Показано, что скорость синтеза пленок РЬТе независимо от природы подложки максимальна на начальной стадии процесса и монотонно снижается со временем. Установлено, что независимо от продолжительности процесса синтеза средняя скорость роста пленок РЬТе на подложках Si (100) заметно выше, чем на подложках BaF_2 (100). Методом дифракции быстрых электронов на отражение показано, что текстура пленок PbTe на Si (100) соответствует ориентации подложки, а разориентация блоков не превышает 20°. На подложках BaF_2 (100) наблюдается эпитаксиальный рост пленок РЬТе с соотношением (100), [011]РЬТе Р(100),[011]BaF_2.
机译:使用石墨反应室的“热壁”的改性方法通过Si(100)和BAF_2(100)基板上的铅电视碲化物合成。已经建立了X射线分析方法,局部X射线分析和光栅电子显微镜,这无论基材的性质如何,均匀性区域内用组合物的膜rynd的平均合成速率随着部分的增加而生长铅蒸汽的压力并随着渗流的分压增加而降低。结果表明,薄膜RTE的合成速度无论衬底的性质如何在过程的初始阶段都是最大的,并且随时间单调减少。已经确定,无论合成过程的持续时间如何,底物Si(100)上的平均膜生长速率Rynd明显高于BAF_2(100)衬底。快速电子反映的衍射方法表明,Si(100)上的PBTE膜的纹理对应于基板的取向,并且块的阻挡不超过20°。在衬底BAF_2(100)上存在薄膜外延生长。与关系(100),[011] RHM P(100),[011] BAF_2的速率。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号