首页> 外文期刊>Физиκа плазмы >ИССЛЕДОВАНИЕ ТРАВЛЕНИЯ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ В РАЗРЯДЕ ПОСТОЯННОГО ТОКА В ХЛОР-ВОДОРОД СОДЕРЖАЩИХ СМЕСЯХ ПРИ НИЗКОМ ДАВЛЕНИИ
【24h】

ИССЛЕДОВАНИЕ ТРАВЛЕНИЯ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ В РАЗРЯДЕ ПОСТОЯННОГО ТОКА В ХЛОР-ВОДОРОД СОДЕРЖАЩИХ СМЕСЯХ ПРИ НИЗКОМ ДАВЛЕНИИ

机译:低压下氯化氢混合物中DC放电蚀刻砷化镓的研究

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Для формирования топологии на поверхности полупроводников часто применяется галогенсодержащая плазма, поэтому спектральный контроль процесса травления представляет собой актуальную методику в современной электронике. В работе изучены спектры излучения плазмообразующих газов смесей хлора/хлороводорода с аргоном, хлором и водородом в присутствии полупроводниковой пластины арсенида галлия. Выбраны линии и полосы для спектрального контроля скорости процесса травления по интенсивности излучения линий и полос продуктов травления. Показано, что связь между интенсивностью излучения продуктов травления GaAs и скоростью травления в плазме смесей хлороводорода с аргоном и хлором описывается прямо пропорциональной зависимостью, что указывает на возможность контроля процесса травления спектральным методом в реальном времени.
机译:为了在半导体表面上形成拓扑,通常使用含卤素等离子体,因此蚀刻工艺的光谱控制是现代电子产品中的相关技术。该工作研究了在砷化镓半导体板存在下氩气/氯和氢气的氯/氯和氢气的氯/氯氢混合物的发射光谱。选择线条和条带,用于光谱控制辐射线强度和蚀刻产物的条带中的蚀刻过程的速率。已经表明,GaAs蚀刻产物的辐射强度与氯化物水电氩混合物等离子体中的快速速度与依赖性成正比,这表明了通过光谱控制蚀刻过程的能力方法实时。

著录项

  • 来源
    《Физиκа плазмы》 |2018年第4期|共7页
  • 作者单位

    Ивановский государственный химико-технологический университет;

    Ивановский государственный химико-технологический университет;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类 等离子体物理学;
  • 关键词

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号