最近の分析法の進歩とセラミックス：EXAFSによる材料評価－イオン導電体への応用

摘要

1971年SayersらによりEXAFSには吸収原子の周りの局所構造に関する情報が得られることが示された．それ以来，EXAFSは物質構造の新しい研究手段として注目されるようになった．特に，シンクロトロン放射(SOR)光の利用により，高精度のデータが短時間で得られるようになり，また測定可能な元素の種類も格段に増えたため，セラミックスやガラスなど無機材料に対する局所構造解析の強力な手段として発展してきた．EXAFSの原理と応用については，既に多くの解説書が出されているので，ここでは主にイオン導電体を例に局所構造解析手段としてのEXAFSの特徴を解説する．