首页> 外文期刊>金属 >原子テクノロジーの源流 第3章 超高真空中のエピタクシー現象-UHV時代の幕開け,微粒子の方位,構造,成長過程,Wulff多面体
【24h】

原子テクノロジーの源流 第3章 超高真空中のエピタクシー現象-UHV時代の幕開け,微粒子の方位,構造,成長過程,Wulff多面体

机译:原子能技术来源第3章外延现象在UHV时代超高真空末端,微粒定向,结构,生长过程,武夫多面体

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

しかし,残留ガスの影響が完全に取り除かれたわけではない.金属薄膜の成長速度は毎秒~0.5原子層(~1A/秒)であった(第2章参照).残留ガスが壁に衝突する数は毎秒~5原子層程度(第2章参照)に相当するから,表面に衝突する残留ガスの方が1桁も多い.従って,多数のガスの環境の中で金属原子のみが凝集して成長すると言うような状況にあり,残留ガスの影響は大きいと推定される.それゆえ,エピタクシーの研究においては,10~(-10) Torr程度の超高真空(UHV:Ultra High Vacuum)中で実験を行う必要がある.この程度の真空であれば,1原子層のガスが吸着するまでの時間は~2×10~4秒(~5時間)となるので充分に清浄表面での実験が可能となるのである.
机译:然而,残留气体的影响尚未完全除去。 每秒金属薄膜的生长速率为0.5原子层(1A /秒)(参见第2章)。 由于与壁的残留气体的数量相当于约5至5个原子层(参见第2章),因此与表面碰撞的剩余气体是多于一个数字。 因此,它处于仅在大量气体环境中聚集并生长金属原子的情况,并且估计残余气体的影响是大的。 因此,在外延研究中,需要在大约10-(-10)托的超高真空(UHV)(UHV)中进行实验。 如果这是真空,那么将一个原子层的气体吸附的时间是〜2×10 1至4秒(〜5小时),因此可以充分地进行清洁表面上的实验。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号